KHẢO SÁT VẬT LIỆU KHÔNG ĐỒNG NHẤT ĐỂ ĐƯA RA THÔNG SỐ CHẾ TẠO NÊM ẢO TRONG QUÁ TRÌNH KIỂM TRA KHUYẾT TẬT MỐI HÀN

Các tác giả

  • Bùi Ánh Hưng Tác giả

Từ khóa

Tóm tắt

Để đánh giá các mẫu kim loại có bề dày không đồng nhất bằng phương pháp chụp ảnh phóng xạ, chúng ta phải tuân thủ các tiêu chuẩn rất khắt khe. Điều này rất mất công và tốn nhiều chi phí cũng như phải bố trí nhiều phân đoạn thực nghiệm rời rạc. Nêm ảo có giá thành rẻ, dễ chế tạo, có tính cơ động cao và dùng được cho tất cả các loại máy tia X khác nhau, và là một trong những giải pháp kỹ thuật độc đáo có thể giải quyết phần lớn những nhược điểm kỹ thuật nêu trên mà vẫn đảm bảo độ tin cậy trong đánh giá chất lượng sản phẩm. Bài toán đặt ra khi sử dụng nêm ảo để khảo sát các vật liệu có bề dày không đồng nhất đã giải quyết được vấn đề cốt lõi là giảm được sự chênh lệch độ đen của phim từ đó ta có thể dễ dàng đưa ra các giải pháp nêm ảo phù hợp, nêm có thể thay đổi thời gian chiếu xạ tới mẫu, độ cơ động cao hơn. Do đó, kết quả nghiên cứu có thể làm tài liệu tham khảo cho các nghiên cứu khác.

Lượt tải

Dữ liệu tải chưa có sẵn.

Đã Xuất bản

01/10/2026

Số

Chuyên mục

Khoa học công nghệ

Các bài báo được đọc nhiều nhất của cùng tác giả

Các bài báo tương tự

1-10 trên 349

Bạn cũng có thể bắt đầu một tìm kiếm tương tự nâng cao cho bài báo này.